A second order approach to analyse spatial point patterns with functional marks

  1. Comas, C.
  2. Delicado, P.
  3. Mateu, J.
Revista:
Test

ISSN: 1133-0686

Año de publicación: 2011

Volumen: 20

Número: 3

Páginas: 503-523

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/S11749-010-0215-1 GOOGLE SCHOLAR

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